
Maaike Godschalk
Specialist infrarood temperatuur
Microscopische lens voor PI640 en XI400
De nieuw ontwikkelde microscooplenzen zijn speciaal ontworpen voor thermische inspectie van elektronische printplaten en analyses van kleine chipniveau-componenten tot 28 μm. De afstand tussen het meetobject en de camera kan variëren van 80 tot 100 mm.
Technische specificaties
Thermografische camera: PI640 en XI400
PI640: 28 μm, 12° x 9° (F=1.1) / f= 44 mm
XI400: 90 μm, 18° x 14° (f = 20 mm)
Infrarood temperatuurmeters
Infrarood temperatuurmeters
Heb je een vraag of wil je graag een offerte aanvragen? Laat het ons weten door onderstaand formulier in te vullen, dan neemt ons salesteam contact met je op.
Deze website maakt gebruik van moderne technieken die niet worden ondersteund door jouw webbrowser. Update mijn webbrowser